欢迎访问湖南宇恒科技发展有限公司网站!
    |

咨询服务热线

0731-84539799

Thetametrisis 薄膜厚度测量仪

  • 主要功能与特点‌测量原理‌:可能采用光学干涉法(类似 F50 光谱反射膜厚仪)或涡流测量法,支持多层膜厚度分析。‌...
立即咨询
全国热线0731-84539799

详情介绍

推荐产品

  • 联系方式
  • 手 机:15874407716
  • 电 话:0731-84539799
  • 地 址:湖南省长沙市天心区芙蓉中路三段380号汇金苑9栋2212
友情链接
在线咨询

咨询电话:

0731-84539799

  • 微信扫码 关注我们

Copyright © 2025 湖南宇恒科技发展有限公司 All Rights Reserved. 湘ICP备2025143285号-1 XML地图
扫一扫咨询微信客服
0731-84539799